先進高頻元件特性分析及模型化技術
Advanced High-Frequency Device Characterization and Modeling Technologies
2007 奈米元件技術研討會短期課程 C
中華民國九十六年五月十四日 / 十五日
新竹市科學工業園區展業一路 26 號
奈米電子研究大樓 國際會議廳
課程簡介
由於無線通訊產業的快速發展，高頻元件技術及其應用已逐漸成為重要的研究議題。隨著元件製程技術的突飛猛進，以及新穎元件結構和材料之應用，高頻元件特性分析及模型化技術所面臨之挑戰也越來越艱鉅。有鑑於此，本課程安排了包括 High-frequency Noise Characterization 、 Flicker Noise Characterization 、 Validation of VNA for On-wafer Testing 、 HF Characterization of Silicon Devices 、 Multiport Calibration and Measurement 、 Pulsed IV & RF Technique 等先進高頻元件特性分析技術，以及 PSP MOSFET Modeling 、 MOSFET Reliability Modeling and Simulation 、 High-Speed Interconnect Modeling 、 High-Voltage/High-Power Device Modeling 等元件模型化技術之相關課程。希望一系列完整而連貫的課程，能提供國內專家學者經驗交流的機會，亦為有志投身此研究領域之最佳進修選擇。
日期 |
時 間 |
議 程 內 容 |
主 講 人 |
5/15 |
09:00-09:10 |
Introduction and Opening |
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09:10-10:20 |
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Dr. James Ma
ProPlus Design Solutions
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10:20-10:40 |
BREAK |
10:40-11:50 |
Challenges of High Power Device Modeling (GaN, HEMTs, and LDMOS) |
Dr. Yusuke Tajima
Auriga Measurement Systems
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11:50-13:00 |
LUNCH |
13:00-13:50 |
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Mr. David P. Menzer
Auriga Measurement Systems
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13:50-14:40 |
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Mr. Choon Beng Sia
Cascade Microtech
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14:40-15:00 |
BREAK |
15:00-15:50 |
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Mr. David P. Menzer
Auriga Measurement Systems
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15:50-16:40 |
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Dr. James Ma
ProPlus Design Solutions
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